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自動橢圓偏振測厚儀_SGC-2

簡要描述:橢圓偏振法測量的原理很早就已提出 ,相應的測試方法和設備也不斷地被改進和創新 ,使得橢圓偏振法成為重要的測試手段 ,廣泛地應用在光學、材料、生物、醫學等各個領域〔1〕.其中測量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數是橢圓偏振法Z基本、也是非常重要的應用之一

  • 產品型號:SGC-2
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-10-08
  • 訪  問  量:1592
詳情介紹

技術參數:
測量范圍:1nm~4000nm;
測量zui小值:≤1nm;
鍍膜折射率范圍:1.300 ~ 10.000
入射角:40°~90° 誤差≤0.05°
偏振器方位角讀數范圍:0°~180°
偏振器步進角:0.0375°/步
測量精度:在10nm處誤差為±0.5nm
光學中心高度:75mm
允許樣品尺寸直徑:φ10mm~φ120mm
厚度:≤10mm

儀器特點:
儀器采用消光式橢圓偏振方式測量,具有精度高、自動控制等特點
光源采用氦氖激光,波長精度高
儀器采用USB接口與電腦連接,配套軟件對采樣數據具有多種處理方式,適用于
不同需要,同時軟件有完整版及學生版兩種版本,適于教學要求。

成套性:
主機,USB線,軟件(需配計算機)

 

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